Birželio 27–28 d. vyks Stanfordo universiteto profesoriaus Artūro Vailiono paskaita ir seminaras.

Paskaitą „Rentgeno spindulių kompiuterinė mikrotomografija – nauja priemonė šiuolaikiniams medžiagų tyrimams“ („X-ray Computed Micro-Tomography – A New Tool for Today’s Materials Research“) profesorius skaitys birželio 27 d. 15 val. Lietuvos mokslų akademijos Mažojoje salėje.

Plačiajai auditorijai bus pristatyta rentgeno mikroskopija kaip 3D vaizdavimo įrankis, aptarta jos dabartinė praktika, supažindinta su ateities galimybėmis taikant šį tyrimo metodą medžiagotyroje, medicinoje, odontologijoje, archeologijoje, kriminaliniuose tyrimuose, produkcijos kokybės kontrolėje, sunkiųjų įrenginių nusidėvėjimui vertinti.

Birželio 28 d. 15 val. Lazerinių tyrimų centro 306 auditorijoje (Saulėtekio al. 10) vyks techninio pobūdžio seminaras „Rentgeno spindulių kompiuterinė mikrotomografija – principai ir taikymai“ („X-ray Computed Micro-Tomography – Principles and Applications“), kuriame prof. A. Vailionis supažindins su pagrindiniais rentgeno spindulių kompiuterinės mikrotomografijos (µ-XCT) ypatumais ir taikymais, svarbiausiais laboratorinio (µ-XCT) prietaiso veikimo principais ir papasakos, kaip galima jį panaudoti medžiagų tyrimų reikmėms. Su santrauka galite susipažinti čia.

Prof. A. Vailionis skaitys paskaitą ir ves seminarą pagal Baltijos–Amerikos dialogo programą (Baltic-American Dialogue Program, BAFF), skirtą JAV gyvenantiems lektoriams atvykti į Lietuvą ir moksliniam bendradarbiavimui tarp JAV ir Lietuvos universitetų skatinti.